產(chǎn)品簡介：

產(chǎn)品名稱：立式光彈測(cè)試儀

型   號(hào)：ANA6000P-V

應(yīng)   用：測(cè)試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力，以圖像形式直觀觀察被測(cè)件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。

安賽斯立式光彈測(cè)試儀：光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器，簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以測(cè)試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力，以圖像形式直觀觀察被測(cè)件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。

立式光彈測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)：

1.       測(cè)試面積（即光源尺寸）

標(biāo)準(zhǔn)尺寸為300 mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；

2.       相機(jī)參數(shù)

2248*2048原始分辨率，輸出4幅1224*1024的偏振圖像。幀率36或79。

3.       應(yīng)力雙折射量程

基本型: 量程為工作波長的1/4（以紅光為例，量程即157.5nm）；

增強(qiáng)型：2296nm。需要采用藍(lán)、綠兩種顏色的光源進(jìn)行測(cè)試，并進(jìn)行相位解包裹處理；

? 3.  測(cè)試分辨率與精度

以 0.8mm 厚的鈣鈉玻璃為例：應(yīng)力測(cè)試的分辨率為 0.2MPa：應(yīng)力測(cè)試的精度：1.0MPa。

應(yīng)力雙折射的測(cè)試分辨率：0.1nm, 精度：1.0nm；

產(chǎn)品特色：

與傳統(tǒng)/常規(guī)的光彈儀相比，本立式光彈測(cè)試儀具有如下特點(diǎn)：

1.     結(jié)構(gòu)簡單

主要部件包括：偏振光源、傾斜平臺(tái)（用于晶體試件測(cè)試）、濾光片轉(zhuǎn)輪、像素偏振相機(jī)、高配筆記本電腦（內(nèi)存 16G 以上）及處理軟件，不含任何可旋轉(zhuǎn)的光學(xué)偏振器件。

2.     操作簡單，可以實(shí)現(xiàn)快速甚至實(shí)時(shí)測(cè)試

只需一次拍照即可同時(shí)獲取試件的相位差場(chǎng)和主應(yīng)力方向場(chǎng)，避免了傳統(tǒng)方法在定量測(cè)試時(shí)的復(fù)雜操作，且在平面應(yīng)力的條件下可以分離出各應(yīng)力分量；

3.     靈敏度高且不受環(huán)境光的干擾

測(cè)試靈敏度是傳統(tǒng)光彈法/設(shè)備的兩倍（物理靈敏度），且無論相位差多小，都可以用最大的灰度梯度圖像表示（顯示靈敏度高）；由于采用不同偏振圖像之間的相減運(yùn)算，使得測(cè)試幾乎不受環(huán)境光的干擾。

4.     多種測(cè)試波長可選并快速切換

切換方式包括RGB 三色 LED 光源（中心波長分別為：625nm、525nm 和 465nm）的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。

5.     可以根據(jù)客戶要求定制產(chǎn)品

在某些特殊情況下，客戶需要用自己的相機(jī)和光源，我們可以根據(jù)需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定制，滿足客戶的需要。

安賽斯光彈儀工作原理

設(shè)：圓盤試件（直徑D, 厚度d）受對(duì)徑壓縮載荷 F 的作用，試件中心點(diǎn)O 的主應(yīng)力分別是：

根據(jù)應(yīng)力-光學(xué)定律，應(yīng)力雙折射材料的主應(yīng)力差與相位差（?）的關(guān)系如下：

其中C 為待求的光彈系數(shù)，λ 為測(cè)試光的波長。

將（1）（2）關(guān)聯(lián)起來，有：

通過光彈實(shí)驗(yàn)確定圓形試件中心點(diǎn)的位相差?，即可得到光彈系數(shù)。

實(shí)驗(yàn)示意及應(yīng)用范圍：

  立式光彈儀 ：利用應(yīng)力雙折射性質(zhì)，在工程上可以制成各種機(jī)械零件的透明塑料模型，然后模擬零件的受力情況，觀察、分析偏振光干涉的色彩和條紋分布，從而判斷零件內(nèi)部的應(yīng)力分布。

應(yīng)力雙折射信息

圓盤徑向受壓實(shí)驗(yàn)：

U型塊壓彎組合實(shí)驗(yàn)：

光彈性方法直觀,能直接顯示應(yīng)力集中區(qū)域，并準(zhǔn)確給出應(yīng)力集中部分的量值；它不但可以得到便捷應(yīng)力而且能夠求的結(jié)構(gòu)的內(nèi)部應(yīng)力。特別是這一方法不受形狀和載荷的限制，可以對(duì)工程復(fù)雜結(jié)構(gòu)進(jìn)行應(yīng)力分析。

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